Druckmessung auf piezoresistiver Basis (Whitepaper)

by STS Sensors on Juni 15, 2016
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Silizium Wafer - Grundlage für piezoresistive Drucktransmitter

Die Druckmessung auf piezoresistiver Basis ist prädestiniert für die statische Druckmessung. Auch in Bezug auf Genauigkeit und Miniaturisierung gibt es Vorteile. In einem exklusiven Whitepaper zeigen wir die Funktionsweise der piezoresistiven Druckmessung auf. 

Bei der piezoresistiven Druckmessung wird die Veränderung des elektrischen Widerstandes eines Materials gemessen. Die Widerstandsänderung durch Druck und Zug tritt prinzipiell bei jedem Material auf. Besonders ausgeprägt ist sie im Gegensatz zu Metallen bei Halbleitermaterialien. Daher wird bei der Messung eher zu Dehnungsmessstreifen aus Halbleitermaterialien wie Silizium gegriffen. Im Gegensatz zu metallischen Dehnungsmessstreifen ist die Empfindlichkeit höher und es lassen sich positive und negative Proportionalitätsfaktoren realisieren. Die erzielte Auflösung liegt somit bei der Verwendung von Silizium viel höher als bei Metallen.

Erfahren Sie alles zur Druckmessung auf piezoresistiver Basis in einem gratis Whitepaper zum Thema: In dem kostenlosen Whitepaper erfahren Sie u.a.:

  • Unterschiede zwischen Metall- und Halbleiter-Dehnmessstreifen
  • Hintergründe zur Halbleiterherstellung (Züchtung Siliziumeinkristall)
  • Temperaturverhalten der Halbleitereigenschaften
  • Wirkweise des piezoresistiven Effekts
  • Aufbau der piezorestiven Messzelle

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Topics: Drucksensor, Piezoresistiver Drucksensor, Drucktransmitter, Druckmesstechnik, Wheatstonesche Messbrücke

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